岩石制片
品牌
其他厂商性质
所在地
武汉上谱分析科技有限责任公司
组合推荐相似产品
电子探针-面分析
电子探针-定量（点）分析
电子探针-定性（点）分析
二价铁分析
主量元素分析
Nd同位素分析 同位素质谱仪
Zn同位素分析 同位素质谱仪
Pb同位素分析 同位素质谱仪
Hf同位素分析 同位素质谱仪
Cu同位素分析 同位素质谱仪
Sr同位素分析 同位素质谱仪
Ca同位素分析 同位素质谱仪
测试项目：制片(光薄片/光片/薄片/探针片)
测试对象：各类岩石
测试周期：10-15个工作日，如薄片数量较多，测试周期顺延。
送样要求：标明样品名称及编号，岩石样品应新鲜不易破碎，如有特殊要求应在送样单中进行注明。
完成标准：薄片一般2.4cm×2.4cm，薄片厚度一般0.03cm，化石薄片0.04cm；光薄片厚度一般0.03-0.035cm，不加盖玻片，表面抛光无划痕；光片一般2cm×3cm，厚度一般0.5cm，表面抛光无划痕。
首页
展台
留言
收藏
联系方式
仪表网采购电话
