电子探针-面分析
品牌
其他厂商性质
所在地
武汉上谱分析科技有限责任公司
组合推荐相似产品
电子探针-定量(点)分析
电子探针-定性(点)分析
二价铁分析
主量元素分析
Nd同位素分析 同位素质谱仪
Zn同位素分析 同位素质谱仪
Pb同位素分析 同位素质谱仪
Hf同位素分析 同位素质谱仪
Cu同位素分析 同位素质谱仪
Sr同位素分析 同位素质谱仪
Ca同位素分析 同位素质谱仪
微量元素分析
仪器型号为日本电子(JEOL)JXA8230电流:1*10-7A、电压:20kV束斑:根据面扫区域大小及图像分辨率适当选择(分辨率>256*256)采样时间:根据束斑及分辨率计算(≈2小时)以上为常规测试条件,如需高精度面扫图像可根据需求进行调整。硅酸盐矿物各元素含量校正标样均为天然矿物,部分金属及硫化物元素含量校正标样为纯物质:Au、Ag、Co、V,其余为天然矿物标样。
首页
展台
留言
收藏
联系方式
仪表网采购电话