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普申测厚仪
用于测量金属底材上的干膜厚度。
技术参数
产品 普申磁性测厚仪 普申磁性非磁性测厚仪 订购编号 PS 2633/1 PS 2634/1 测量原理 电磁式（磁性基底） 电磁式（磁性基底）+ 涡流式（非磁性基底） 自动识别磁性基底和非磁性基底 测量范围 0-1250μm 0-1250μm 测量精度误差 单点校准：±（1+3%H） 三点、四点校准：±[(1%+3%H)]H+1.5 单点校准：±（1+3%H） 三点、四点校准：±[(1%+3%H)]H+1.5 最小基体 10mm*10mm 10mm*10mm 最小曲率 凸：5mm 凹：5mm 凸：5mm 凹：5mm 基体 0.4mm 0.4mm
