WDX-4000 是在重大科学仪器设备开发专项（项目编号：2011YQ170065）资金支持下，融合的科技和发明，推出的*台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试，能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素，可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计，可以提供给客户经济便捷的维护。

性能特点:

的测角仪设计
保护的型钢带传动系统，可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动，以保证精度的角度定位要求；
θ/2θ两轴独立运动，并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统；
永磁式交流伺服电机提供业界的高速平滑运动；
圆光栅测角重复性可达±0.0002度，精度达±0.0006度，足以保证优异的角度测量性能；

数字多道分析仪
12位，80M/s的模数转换采样率，是业界分辨率的信号采样系统，保证了信号采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法，4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号
大动态范围测量，有效减少了探测器增益调节次数

X射线光管和高压
标准的4kW大功率电源系统，支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度
50um/75um的铍窗厚度保证超高的X射线穿透率，尤其适合低能X射线穿过
高压电源电压和电流可达60kV和160mA，用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数
双通道水冷系统，电导率保持在1uS以下，以限度延长光管工作寿命其他
多可支持10块晶体，可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体，以提升轻元素的检测能力
薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜，极大提升了轻元素的光通量

其他：
光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内
晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制
软件
完整而丰富的软件功能
32位软件系统，优异的可操作性和人机交互界面
成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据
基本参数法可提供多样化的分析手段，可进行无标样的半定量和定量分析
集成的SQLite数据库用于保存实验数据，方便数据查询和管理

技术指标

进样系统
样品形式：固体
样品尺寸：51.5 mm × 40 mm
样品重量：重500g
进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰
自动进样机：自动机械手进样系统，多可装168个样品
自旋装置：3种自旋速度(低、中、高)
X射线光管
铍窗：50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率
阳极靶材料：标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等
工作模式：样品进样时保持工作状态不变
水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下
高压电源
输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节
长时间稳定性：0.01%/8 hours
温度稳定性：50 ppm/C
(20 ppm/C可选).
数据
功率：4kW
KV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；电压75kV，电流160mA可选.
测角仪
工作模式：型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动
转角速度：6000 2θ/min
测角精度：0.0006° θ / 2θ
测角重复性：0.0002° θ / 2θ
步进角度：小 0.0001°，1°
角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ
闪烁计数器: 0° to 120°@2θ
光路
准直器面罩：单面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可选)
主准直器：多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可选
主滤光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可选
晶体：多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.
探测器：流气比例计数器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
闪烁计数器 (SC)
光室真空度 lt;15pa
信号处理
数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离
计数率：流气比例计数器:2Mcps
闪烁计数器: 1.5Mcps
脉冲漂移和增益校正：自动
时间校正：自动