Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统 光学显微镜

Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统 光学显微镜

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-11-17 09:47:24
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上海鲸蓝仪器科技有限公司

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产品简介

在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用*的宏观物镜,视场宽敞 30%。

详细介绍

 

更多细节尽收眼底,工作更高效

看到更多细节意味着工作更高效。为快速扫描达到 6" 的大组件,DM3 XL 提供*的宏观物镜。

利用 0.7x 放大倍率,它可以即刻采集 35.7 mm 的视场 – 比其他常规扫描物镜宽敞 30%。

在宏观物镜下,缺陷无所遁形:

 

 

 

适用于所有相衬观察方法的 LED

DM3 XL 针对所有相衬观察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色温,并在所有亮度等级下提供真彩色成像。

在所有亮度等级下实现真彩色成像

由于 LED 使用寿命长,耗电量低,因此还具有巨大的成本节约潜力。

 

 

 

光学“高手”

DM3 XL 让您以实惠的价格享受到的光学性能。

您将对明显提高的灵敏度和分辨率感到震惊。

 

 

 

不同样品 – 可变载物台插件

无论您想要检验的样品是哪种类型,尺寸如何,均有种类丰富的载物台插件供您选择:

 

 

 

工作舒适直观

彩色编码光圈辅助 (CCDA) 对分辨率、对比和景深的基本设置进行简化,有助于提升您的工作速度,并*大程度减少操作失误。

直观明了的功能帮助您的团队更快速地交付*佳结果。 

 

~ 更多产品详情,请致电 ~

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