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体视显微镜 Leica M125 C, M165 C, M205 C, M205 A 显微镜/望远镜
面议Leica S APO 显微镜/望远镜
面议Leica A60 S 显微镜/望远镜
面议Leica DMI 3000M 研究级全手动式倒置金相显微镜 光学显微镜
面议超声波清洗机 “laborette 17” Ultrasonic Cleaner, I型
面议超声波清洗机 “laborette 17” Ultrasonic Cleaner, II型
面议全自动试样制备系统 Vanguard® 2000 磨抛机(抛光机、磨样机)
面议Burst抛光液配送系统 磨抛机(抛光机、磨样机)
面议牛津 X-MET5100(手持式XRF元素分析仪) 矿石化验仪
面议牛津仪器 X-MET5000(手持式XRF元素分析仪) 矿石化验仪
面议X-MET7500 矿石化验仪
面议数显式精密筛分机/仪
面议多功能离子束研磨仪 Leica EM RES101
样品制备
适宜为透射描电和扫描电镜样品制备, 在实验室无需设立两台不同的仪器,结果节省成本。
局域网兼容
通过局域网,用户可以通过外部进行操控和监视样品处理过程,为用户提供极大的灵活度和便利性。
液氮冷冻系统
可选配的LN2冷却系统,使用Cu质地的专门的样品台,确保样品真正冷却,使对热敏感的样品进行样品处理时无假象产生,适用于TEM和SEM样品处理,使针对不同种类样品处理的方法更灵活多变。
全自动多功能离子束研磨系统,可进行离子减薄(用于TEM);离子束抛光,离子刻蚀,样品离子清洗及斜坡切割(用于SEM)等
离子束能量1keV 10keV,2把离子枪可分别±45°倾斜,样品台倾斜角度-120°至210°,离子束加工角度0°至90°,样品平面摆动角度<360°,垂直摆动距离±5mm
可容纳*大样品尺寸:直径25mm,高度12mm
可选配样品台:TEM样品台(Ø3.0mm或Ø2.3mm),FIB样品清洗台,SEM样品台,斜坡切割样品台(对样品35°或90°斜坡切割)及相应冷冻样品台
全无油真空系统,样品室带有预抽室,保证样品交换时间<1分钟
全电脑控制,触摸屏操作界面,内置视频观察系统,可实时观察样品出来过程