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体视显微镜 Leica M125 C, M165 C, M205 C, M205 A 显微镜/望远镜
面议多功能离子束研磨仪 Leica EM RES101 研磨机(研磨仪)
面议Leica S APO 显微镜/望远镜
面议Leica A60 S 显微镜/望远镜
面议Leica DMI 3000M 研究级全手动式倒置金相显微镜 光学显微镜
面议超声波清洗机 “laborette 17” Ultrasonic Cleaner, I型
面议超声波清洗机 “laborette 17” Ultrasonic Cleaner, II型
面议全自动试样制备系统 Vanguard® 2000 磨抛机(抛光机、磨样机)
面议Burst抛光液配送系统 磨抛机(抛光机、磨样机)
面议牛津 X-MET5100(手持式XRF元素分析仪) 矿石化验仪
面议牛津仪器 X-MET5000(手持式XRF元素分析仪) 矿石化验仪
面议X-MET7500 矿石化验仪
面议美国康塔仪器公司40余年专注于多孔材料物性表征仪器制造,结合多孔材料的应用需求日益增长和科研需求不断深入的特点,不断推出适合用户分析需求的仪器,并始终以维持仪器的高稳定性,保证分析的真实性、准确性为己任。
日前,为适应绿色、无损、快速分析的需求,美国康塔公司推出了基于电声法的全新多孔材料表征仪器 ---- WAVE系列探头式孔分析仪。
由于采用了的电声法原理,WAVE系列对分析材料类型无限制---- 在电声法孔径测量范围内,只要是非可溶性材料并且孔道能被液体浸润,就均可测试,几分钟即可出结果。不使用汞或高纯气体,运行成本更低、对环境更友好、操作更简便, 更快速, 可实现便携式现场测量。基于Windows的软件可帮助您实现材料的快速、准确测量,并为您管理日益庞大的数据库。
该仪器可广泛应用于绿色和烧结陶瓷、岩心样品、色谱分离用硅胶和树脂、片状样品、刹车片等摩擦制品、水泥和其它建材行业,对整块材料剖面的均匀性进行测量判断;也可用于易于沉降的粉体材料分析。
该系列仪器分为三个型号,可分别对孔隙率、平均孔径及材料表面电位(Zeta Potential)等参数进行测量。
WAVE | 平均孔径 | 孔隙率 | 孔表面Zata电位 |
3805 | √ | √ | √ |
2305 | √ | √ | |
1905 | √ |