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TEG-Tester 热电转换效率测量系统——热电器件和帕尔贴元件测试仪
面议气体计量系统(GDS) Gas Dosing Systems (GDS)
面议TFA-薄膜的表征 导热系数、电阻率、电导率、塞贝克效应,薄膜的霍尔效应和辐射
面议GSA PT 100重力吸附分析仪
面议磁悬浮天平 热重分析仪(TGA)
面议DTA PT1600 差热分析仪
面议TGA PT1000 热重分析仪
面议TGA PT 1600 热重分析仪
面议STA HP3 高温高压同步热分析仪——桌面式高压TGA-DSC
面议LZT-Meter (LSR/LFA) 赛贝克系数/导热联测仪
面议TIM - Tester 热界面材料测试系统
面议LFA 500 热扩散/导热系数测试仪——易操作且快速的通用型导热仪
面议全新的CHIP DSC 1集成DSC所有主要部件(炉体、传感器和电子器件)于一个小型透明外壳中。芯片布置包括加热器和温度传感器,其在具有金属加热器和温度传感器的化学惰性陶瓷装置中。
这种布置允许更高的再现性,并且由于低质量且功能良好的温度控制装置。该仪器的加热速率高达100℃/min。集成传感器不但便于用户交换而且价格低廉。
芯片传感器的集成设计可为用户提供可靠的原始数据,并且在无需实施热流数据预先或事后处理的条件下,即可直接完成分析过程。
这种紧凑型结构大幅度降低生产成本,使客户受惠。低能耗和好的动态响应功能,使CHIP-DSC具备好的性能。
传感器设计
集成加热器和温度传感器的商业热通量DSC,具有良好的灵敏度、时间常数和加热/冷却速度。
低质量CHIP DSC传感器设计使其具有良好的响应速度。
*的传感器设计使其具有基准分辨率和分离似然事件功能。
低质量CHIP DSC传感器为我们带来良好的冷却速度,从而具备快速样品处理能力。
型号 | CHIP-DSC 1 |
温度范围: | RT 至 450 °C |
加热/冷却速率 | 0.001 至 100 K/min |
温度准确度 | +/- 0.2K |
温度精确度 | +/- 0.02K |
数字化分辨率 | 16.8 万点像素 |
分辨率 | 0.03 µW |
气氛 | 惰性,氧化(静态,动态) |
测量范围 | +/-2.5 至 +/-250 mW |
校准材料 | 包含 |
校准周期 | 建议每隔6个月校准一次 |
来自LINSEIS智能软件解决方案
全新的Platinum软件极大地提高了您的工作流程,因为直观的数据处理只需要的少量参数输入。
Auto Engy在评价诸如玻璃化转变或熔点等标准工艺时为用户提供有价值的指导。
热库产品识别工具,提供一个数据库与600个聚合物允许一个自动识别工具为您的测试聚合物。
仪器控制和/或通过移动设备进行监控,无论你在哪里,都能控制。
软件包与Windows操作系统兼容
设置菜单条目
所有具体的测量参数(用户,实验室,样品,公司等)
可选密码和用户级别
对所有步骤撤消和重做函数
无限加热、冷却或停留时间段
多种语言版本,如英语、德国、法语、西班牙语、中文、日语、俄语等(用户可选择)
评价软件具有多种功能,能够*评估所有类型的数据。
多重平滑模型
完整的评估历史(所有步骤都可以撤消)
评价和数据采集可以同时进行。
可以用零校正数据和校准校正
数据评价包括:峰值分离软件信号校正与平滑、一阶导数和二阶导数、曲线算法、数据峰值评价、玻璃点评价、斜率修正。缩放/单独片段显示、多曲线叠加、注释和绘图工具、复制到剪贴板功能、图形和数据导出的多个输出特征、基于引用的校正
无主动式冷却器条件下的快速冷却速率
林赛斯芯片式DSC可在无需主动式冷却器的条件下,提供快速的弹道式冷却速率。鉴于该仪器具有热质量低和传感器设计新颖的特性,因此在高温段至100℃的冷却过程中,可提供200℃/min的冷却速率,在100℃/min至室温的冷却过程中,可提供50℃/min的冷却速率。
在本测试实例中,我们从400℃等温线温度开始实施弹道式冷却进程。最终冷却至50℃的时间仅为3分钟。当然,我们也可以在冷却阶段实施评估进程。此类评估同样不会存在灵敏度或准确性损失。
聚合物分析是DSC的主要应用之一。在聚合物分析中,我们比较关注玻璃化转变、熔点和结晶点的影响,但通常很难完成此类检测进程。新型的林赛斯芯片式DSC具有高分辨率和高灵敏度特性,这使得该仪器成为聚合物分析的理想工具。在本实例中,对PET颗粒进行加热,再进行淬火冷却使其成为非晶态,然后使用Chip DSC,按照50K/min的线性加热速率进行分析。该曲线显示,PET颗粒在80℃呈现明显的玻璃化转变,随后在148℃呈现冷结晶的非晶态,并在230℃出现熔融峰。