背景

矿业公司一直在努力提高勘探的成功率、锁定高质量的矿藏、提高生产力和利润。X 射线荧光光谱仪 (XRF) 是安全、具有经济效益且高度可靠的方法。过去的采矿勘探方法需要广泛的地质样品勘探并将其收集到袋子中，然后带到实验室以确定矿物质含量。实验室分析通常需要2-4周的时间才能获得结果。

Compass 300 XRF分析仪可以在现场进行实时分析，并链接到GPS位置，帮助客户快速的获取可靠检测结果。

介绍

Compass 300能量色散X射线荧光（EDXRF）基于台式机的设计平台，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪，比一般便携式设备测试效果更稳定，更出众。配备了*的SDD检测器， 同时实现了高分辨率，高计数率CPS和高灵敏度，从而达到实验室级别的测试效果。

特点和优势

•Compass 300配备的SDD检测器优势

>高分辨率：通常优于130ev，降低相邻元素干扰，并提高轻元素检测效果

>高计数率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的强度，只要普通Si Pin检测器的0.2~0.05倍的时间，即Si Pin在设定分析时间为100秒的話，对SDD而言，得到相同的强度，只需5~20秒

>高灵敏度：灵敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素检测下限

•便携，坚固，紧凑的设计，轻松实现现场高精度样品无损检测

•可分析各种样品形态：包括矿体、矿块、矿渣、矿粉、粗矿、精矿、尾矿、土壤、泥土、泥浆、灰尘、粉尘、过滤物、薄膜、废水、废油、液体样品等

•只需制备少量样品便可进行无损检测

•一键测试，一键打印报告

•可选配大容量电池，无需外部供电情况下可实现长时间工作

应用领域

>分析矿种

涵盖从Mg至U之间的金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿等

>勘查

多元素现场快速分析，可广泛应用于普查、详查的各个过程，追踪矿化异常，扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品的数量，从而节约运输和分析费用

>岩芯检测

快速分析岩芯和和其他钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场及时决策效率

>开采过程控制

矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行精确管理和控制，对矿石品位进行随时检测

>品位控制

对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行精确快速分析，为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判断依据

>环境分析

快速对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果

>石油化工：燃料，润滑油，添加剂中的硫元素分析，磨损金属分析

>刑侦：证据分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等

技术参数

无需每日校准即可获得高精度结果。仪器自带工厂标定曲线，客户可直接测量样品。

铅锌矿样品连续测试报告