光谱仪扫描式OLED模组寿命测量系统

FS-GA系列光谱仪扫描式OLED模组寿命测量系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-10-08 10:51:23
211
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产地:国产;加工定制:是;
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苏州弗士达科学仪器有限公司

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产品简介

光谱仪扫描式OLED模组寿命测量系统FS-GA系列主要应用于多片 OLED手机或平板模组屏的寿命衰减测试。

详细介绍

光谱仪扫描式OLED模组寿命测量系统

系统组成

1 三轴全自动测量机台

2 分光辐射亮度计

3 视觉定位相机

4 MDL信号

5 OLED 模组寿命测试软件


系统特点

1. 采用光谱仪扫描测试的方式,可以得到亮度、色度、色温和光谱数据等。同时 XY轴扫描式的测量方式可支持模组表面多点不同位置的寿

命衰减和均匀性测试。

2. 工业视觉对位相机在每次测量前自动扫描所有工位的 OLED的放置位置,自动识别 OLED的中心点坐标和尺寸,更换不同尺寸的 OLED

产品时,无需人工去重新设置每片 OLED的坐标位置。

3. 弗士达将多孔陶瓷吸附台应用于柔性 OLED屏体的固定,并做了大量的设计改进,保证将柔性屏吸附平整的同时不会造成像素的异常。

4. 对于环境温度的控制要求,弗士达研发了紧凑性的高温箱,可在有限的机台空间内对屏体提供均匀的环境温度控制。

温控范围:室温 — 100℃ 温控范围:室温 — 100℃ 。


工位灵活配置

● 对于柔性屏和直屏等背部平滑的产品,都可以采用多孔陶瓷真空吸附台进行固定。吸附台配有真空吸力数显表。

● 为减小机台尺寸,机台可设计成前后开门放置产品

● 对于屏体有温度控制的需求,可以选择铝合金加热平台

● 对于屏体所处环境温度有要求,可以选择高温箱。每个高温箱可独立控温


软件特点

1. 可分组测试:不同组可以设置不同的测试项目和测试参数,每组都可以独立开始和停止。

2. 寿命测试时间区间和间隔设置:可以设置三段时间区间和测试间隔。

3. 寿命测试结束条件判定:亮度衰减至初始值的百分之多少时停止测量,或按用户设定的总时间进行测量。

4. OLED放置位置自动识别:软件上选择测试的工位,软件控制工业视觉对位 CCD自动扫描测试工位的 OLED发光区尺寸和中心点位置。

5. 寿命预估功能:软件自带寿命预估公式,根据实时测得的数据自动计算预估寿命时间。

6. 测量数据的实时保存和恢复:测试过程中软件实时保存,即使电脑异常关机或软件异常退出,重启后仍可以恢复加载之前的数据,继续测量。

7. 软件可设置一组热机画面,在等待测试的时间段,OLE 7. 软件可设置一组热机画面,在等待测试的时间段,OLED循环显示热机画面

8. 支持条码扫描,及将数据上传至服务器(需客户提供上传协议)

9. 强大的软件测试功能,用户可以编辑任意点位置、任意画面、任意测试项目的组合,可满足不同画面的寿命测试、均匀性测试、残影 (烧屏 )测试、IVL测试等功能。





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