OLED 器件IVL寿命和EQE三合一光学测试系统

为满足科研类测试的需求，弗士达提供集成IVL测试和视角测试、寿命测试、光通量和外量子效率测试功能的多合一机台。

高精度多通道电源为多工位寿命测试提供定电流或定电压输出，光谱仪逐一扫描各工位得到器件的亮度。使用光通量测试用积分球和光纤光谱仪可准确测量器件的外量子效率，将器件置于积分球内部进行光通量和外量子效率的测量，内置的校正A光源可提升光通量测试准确性。

软件介绍

● I-V-L曲线测量的设定

• 可以设定起始电压、终止电压、电压步长，进行连续的测量

• 可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长，进行连续测量

• 可以单独设定电流密度的亮度检测下限值，低于下限值时仅测电流电压，超过下限值后同时测电压电流亮度等数据

• 可以设定并保存设定的机种参数，下次测量时可以直接调用

● I-V-L的测量数据

• 测量的结果包括：亮度L(cd/m2)、电流效率(mA/cm2)、发光效率、外量子效率、色坐标(x，y)、色温、显色指数CRI、发光光谱

• 输出的测量项报表中的图表包括：Cdens-V、Cdens-L、Cdens-LumE、 Cdens-EQE、 CIE1931、Spectra