短期残影测量仪DI系列

短期残影测量仪DI系列是弗士达开发的用于平板显示器(FPD)自动光学检测的仪器。采用制冷型图像芯片来 获得高质量的拍摄画质，同时集成了光谱仪光路以提升亮度色度的准确性。不同型号的分辨率从1160万像素到 6100万像素，满足用户的不同测试需求。

产品应用
产品主要应用于微型显示器、手机、显示器、大尺寸电视和背光模组的测试。测量项目：亮度色度均匀性、 画质缺陷检测(点/线缺陷、表面缺陷)、Mura和漏光检测、残影检测。

硬件特点：
• 高分辨率图像传感器
• 高灵敏度
• 电子镜头控制
• 光谱仪集成
• 多种选择

软件模块
• 亮度色度分析
• 光谱分析测量
• 缺陷检测
• Mura和漏光检测
• 残影测试