手提式X射线镀层测厚仪  

  型号： HMX系统 
  厂家： 美国Matrix Metrologies公司 
  特点： 无损
  单、双、三层镀层的厚度测量 
  无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法
  对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量现场的样品分析基材管理的合金分类以及合金确认*的"分组测量"模式，允许计算一组部件的平均厚度
  软件 
 基础参数分析（非标准和标准）：点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量法功能允许对许多小部分同时进行非接触测量。 
  快速ID合金分析： 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号； 库存编辑和合金识别能力； 
  基础参数分析（FP）: 这个组合包括21种元素： 钛，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，锆，铌，钼，铪，钽，铼，铅，银，锡，铋，锑等。（注意：总共可以安装25元素；还有附属的元素包括：镉，金，铂，钯，硒。） 
  技术数据 
  电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。 
  X射线发生器： 银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50微安 
  测量尺寸： 接触样品表面测量时，7.75 mm 
  X射线探测管： Si-PIN高分辨率探测系统 
  尺 寸: 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm 
   重 量: 基体配置1.2kg；1.6kg带电池