德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。
可测元素范围：
钛（Ti） – 铀（U）
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
自动测量功能：编程测量，自定测量
修正测量功能：底材修正，已知样品修正
定性分析功能：光谱表示，光谱比较
定量分析功能：合金成份分析
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,*的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量（需要配合纯材料）,为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.