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WLP-202型平均粒度测定仪(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器,由于不受材料结团对测量的影响,测试的粒度重复性非常的好,精度高,由于仪器结构简单,操作方便,造价低,性能稳定,自1978 年投产以来,广泛应用于硬质合金,磁性材料,化工材料,医药,陶瓷等工业上。四十年来深受国内外用户好评。
主要技术参数
·测量范围:第一档:0.2-20 微米;第二档:20-50 微米
·孔隙度范围:0.4-0.8
·环境温度:25±10℃
·重复性:3%
·电源:110V/60HZ, 220V/50HZ, 任选一种
·功率:30W
·重量:18kg
·外形尺寸:735×415×245mm^3