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一、光切法显微镜 9J
1.本仪器在原有的基础上进行了光学系统升级，明场成像更清晰，避免看不清测量读数刻线。
2.配备粗微动同轴调焦系统，粗动松紧可调，微动格值:2μm，使之更加准确的找到成像面。
3.一体化结构机身，无需另配变压电源，操作简洁、方便。
4. 非接触式测量，不会破坏样品表面层，经过计算后确定纹痕的不平度。
类 型 | 9J | |||
测量范围不平度平均高度值（微米） | >0.8-1.6 | >1.6-6.3 | >6.3-20 | >20-80 |
表面光洁度（级别） | 9 | 8~7 | 6~5 | 4~3 |
所需物镜 | 60X/0.55 | 30X/0.40 | 14 X/0.20 | 7X/0.12 |
总放大倍数 | 510X | 260X | 120X | 60X |
物镜组件工作距离（mm） | 0．04 | 0．2 | 2．5 | 9．5 |
视场（mm） | 0.3 | 0.6 | 1.3 | 2.5 |
摄影装置放大倍数 | 约6倍 | |||
测量不平度范围 | （0.8-80）微米 | |||
不平宽度 | 用测微目镜：0.7微米-2.5毫米 | |||
用座标工作台：（0.01-13）毫米 | ||||
仪器重量约 | 23公斤 | |||
外形尺寸（mm） | 约180*290*470毫米 | |||
二、成套性
1 | 仪器主体：1台 | 6 | 7倍物镜：1组 |
2 | 测微目镜：1只 | 7 | 14倍物镜：1组 |
3 | 座标工作台：1件 | 8 | 30倍物镜：1组 |
4 | V型块：1件 | 9 | 60倍物镜：1组 |
5 | 标准刻尺(连盒) ：1件 |
