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•配备具有0.0001°最小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的,可以选择适合分析大型样品的L型(350mmφ样品)和通用的S型。
•XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪,能够测定超大型样品。
•不但可进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。
•利用新开发的大型R-θ样品台,可以进行350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。
•采用强大的多毛细管平行光束系统,可对应凹凸不同的样品的分析,扩大应用范围。