omni高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪

作为将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，*解决了*以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能大的粒度与Zeta电位分析仪。

omni高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪

1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～10μm；

2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；

3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系；

4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v；

5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程；

6.综合的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件；

7.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析.