老化系统

老化系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-02-06 12:56:24
147
产品属性
关闭
羽歆电子科技(上海)有限公司

羽歆电子科技(上海)有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

PRODUCTFEATURESTheEasy-ThinkInstrumentHi-BISisdesignedforChip,Bar,Die,andCoCburn-inandlifetest

详细介绍

PRODUCT FEATURES

   The Easy-Think Instrument Hi-BIS is designed for Chip, Bar, Die, and CoC burn-in and life test. 

· Independent temperature control for each individual drawer.

· Well designed thermal contaction.

· Excellent electrical stress protection network.

· Flexible fixture configurations for different product usage

· Compact and easy to use



APPLICATIONS

· Laser burn-in & life test

· LED burn-in & life test



Specification

老化系统1.jpg


HiBIS 产品资料(点击下载)

上一篇:飞行汽车真的来了!飞来飞去近在咫尺,泰科纳技术助力螺纹检测保驾护航 下一篇:上海理涛防火门防烟性能试验装置:操作简便
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话