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1、 扫描台:第二代High Definition高清晰扫描台;重复精度 0.05um
X / Y 轴均为超高性能线性马达(Y 轴为双马达)
X / Y 轴具有内置磁力机构,配置仪器设备专用大理石防震台和平衡惯性机构,确保扫描的稳定性在高速扫描过程中可隔绝振动的影响,可避免图像因快速扫描而失真;
2. 前后双探头机构,可前后同时反射扫描,2倍单探头扫描效率;
3. 前后每个探头各自扫描范围:最小:200 x 200 μm :320 x 320 mm
4. 可自动寻找被测样品的中心位置和样品边缘尺寸,自动设定扫描范围
5. 扫描速度: 2,000mm/s, X 轴加速度:20,000mm/s2
6. 接收发射器DPR 500带宽:500MHz
7. ADC 卡采样频率:5G/秒
8. 支持探头频率:5MHz-400MHz
9. 增益调节窗口:-22dB-50dB, 更多功能高级菜单设置
10. 主要扫描模式:A-扫描、B-扫描、X-扫描 (多层C扫描)、Z-Staple 扫描(在不同的Z高度进行连续的C扫描)、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan实体扫描模式、托盘矩阵扫描、 Z变换扫描、顺序扫描预扫描、自动扫描、空位跳跃扫描、插值扫描、分频扫描,Over Scan等;
11. 图像分辨率≥ 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um/像素;
12. HiSA 高速实时自动聚焦功能(选项,可选前面1个HiSA 或前后2个HiSA ):
可根据样品的翘曲情况(5mm以内),在扫描过程中实时调整焦距,即Z轴一边扫描,一边实时自动改变Z轴探头的上下对焦位置,使得探头对于检测位置始终处于聚焦状态,从而保证整个样品的图像完整性;
13. DTS 高分辨率动态透射扫描(选项):
改变了传统穿透式透射接收探头安装固定后就无法聚焦的状况,通过后置Z轴运动单元,使用者可以像C-扫描反射探头一样对该透射接收探头进行调整和聚焦,使得发射探头和透射接收探头处于同一聚焦面,保证透射接收探头的信号,透射图像甚至可以和C-扫描的分辨率相媲美;
可选DTS透射接收探头:40MH z f=16mm 或 40MHz f=12.7mm
支持探头频率:5MHz-400MHz
可选DTS透射接收探头:40MH z f=16mm 或 40MHz f=12.7mm
1、 扫描台:第二代High Definition高清晰扫描台;重复精度 0.05um
X / Y 轴均为超高性能线性马达(Y 轴为双马达)
X / Y 轴具有内置磁力机构,配置仪器设备专用大理石防震台和平衡惯性机构,确保扫描的稳定性在高速扫描过程中可隔绝振动的影响,可避免图像因快速扫描而失真;
2. 前后双探头机构,可前后同时反射扫描,2倍单探头扫描效率;
3. 前后每个探头各自扫描范围:最小:200 x 200 μm :320 x 320 mm
4. 可自动寻找被测样品的中心位置和样品边缘尺寸,自动设定扫描范围
5. 扫描速度: 2,000mm/s, X 轴加速度:20,000mm/s2
6. 接收发射器DPR 500带宽:500MHz
7. ADC 卡采样频率:5G/秒
8. 支持探头频率:5MHz-400MHz
9. 增益调节窗口:-22dB-50dB, 更多功能高级菜单设置
10. 主要扫描模式:A-扫描、B-扫描、X-扫描 (多层C扫描)、Z-Staple 扫描(在不同的Z高度进行连续的C扫描)、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan实体扫描模式、托盘矩阵扫描、 Z变换扫描、顺序扫描预扫描、自动扫描、空位跳跃扫描、插值扫描、分频扫描,Over Scan等;
11. 图像分辨率≥ 32,000 x 32,000 像素, 精度最小0.5um/像素;
12. HiSA 高速实时自动聚焦功能(选项,可选前面1个HiSA 或前后2个HiSA ):
可根据样品的翘曲情况(5mm以内),在扫描过程中实时调整焦距,即Z轴一边扫描,一边实时自动改变Z轴探头的上下对焦位置,使得探头对于检测位置始终处于聚焦状态,从而保证整个样品的图像完整性;
13. DTS 高分辨率动态透射扫描(选项):
改变了传统穿透式透射接收探头安装固定后就无法聚焦的状况,通过后置Z轴运动单元,使用者可以像C-扫描反射探头一样对该透射接收探头进行调整和聚焦,使得发射探头和透射接收探头处于同一聚焦面,保证透射接收探头的信号,透射图像甚至可以和C-扫描的分辨率相媲美;
可选DTS透射接收探头:40MH z f=16mm 或 40MHz f=12.7mm
1.定量测量功能:X -Y 长度计算;
2.厚度与距离测量;胶厚测量;
3.可根据样品的实际轮廓( 圆形,矩形,不规则形)对检测界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析,样品扫描后可提供缺陷尺寸列表并输出报告,点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y 区域,便于进一步分析和定位缺陷;
基本配置:Intel四核处理器,Xeon E5 CPU 3.5GHz,32GB 内存,1T硬盘,DVD-RW刻录光驱,高速图像卡,Windows 10-64 位操作系统, USB及网络接口,1台或2台27'液晶显示器;配置防静电操作台;