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SAM 301 型 主要技术参数：
一 机械部分：
1. X/Y 两轴均为超高速、线性马达驱动系统, X / Y 轴内置磁力机构；
2. 配有防震系统与惯性平衡机构，隔绝在高速扫描过程中振动影响，确保图像不会因快速扫描而失真；
3. Z 轴行程大于100mm
4. Z轴自动对焦，不仅可以自动对焦到样品表面，而且同时还可对样品内部任意界面自动对焦; 逐层自动对焦可设定步距，Z-轴探头按步距从样品底部开始向上逐层扫描；
5. 扫描范围：最小0.20 mm × 0.20 mm ； > 320 mm × 320 mm; 可自定义扫描区域，可任意输入或框选扫描面积（正方形，长方形，矩形）；同时还能自定义序列扫描，跳过没有样品的空白位置；可自动寻找被测样品的中心位置和样品边缘尺寸，自动设定扫描范围；
6. 扫描速率：1,500 mm/s
7. 重复精度：+/- 0.1μm
8. 标准工作水槽尺寸：670 *560 * 70mm 或670 * 560 * 150mm 或定制加长工作水槽，配置工字形样品台
二 电子部分:
1. DPR 500 超声波接收和发射器频率带宽：500MHz
2. ADC卡采样频率：1.25G/秒, （2G, 5G 选配）
3. 前置放大器：L2 H2，（H3 选配）
支持换能器（探头）范围：5MHz- 400MHz
部分可选项：
1. 德国 PVA Hibert Filter- 外置滤波器（软件开关控制，用于110MHz 以上延迟性探头使用）
2．前后双工位系统，减少机器停顿时间，显著提高工作效率
3. 各种样品吸盘、夹具定制、半自动化设备升级
4．在不改变扫描机构主体，升级为双探头（左右排列或前后排列）、四探头扫描系统，成倍提高扫描效率
4. 专业图像处理与计算软件（空洞率计算和颗粒度分析，不仅适用于超声波扫描显微镜，同时可用于电镜、光学显微镜、 共聚焦显微镜、 X-Ray 等众多显微检测设备）
5、圆柱体、管材样品检测旋转装置
使用要求；220V，50Hz ，去离子水
备注：
SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 机型,SAM 301 UltraTec 超高速机型（双马达配置，扫描速度达 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等机型，根据具体配置予以细分，满足不同用户需求；
欢迎您，我们会根据您的产品检测需要，为您推荐最合适的机型和配置.
设备如软件、硬件升级， 相关参数会有所变更，请以生产厂家确认为准。
软件部分: Winsam 8 超声扫描成像软件，部分功能介绍：
1. 主要扫描模式包括：A扫描（点扫描）、B扫描、C扫描、多层C扫描、在不同的Z高度进行连续的C扫描、多重门限扫描、透射扫描、托盘扫描、、顺序扫描、高清晰扫描、表面跟踪扫描、实体扫描
分频扫描、覆盖扫描等；透射扫描模式选件：Through Scan 透射扫描固定单元及接收探头；
2. 表面稳定功能：可消除或减弱样品表面刻字，激光打标等对样品内部超声波信号所带来的影响;
3. 图像输出格式：tiff, bmp, jpeg, png 等; tiff格式能一键存储保存所有的扫描参数，可在下一次扫描时调用；
4．定量测量功能：X -Y 长度测量、厚度与距离测量、缺陷百分比计算：可根据样品的实际轮廓（圆形，矩形，不规则形）进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可提供缺陷尺寸列表并输出报告，点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的X/Y 区域，便于进一步分析和定位缺陷等；
5. 图像着色功能：根据相位翻转自动着色；根据灰度等级手动着色；根据渡越时间手动着色，根据厚度变化手动着色（已知材料的阻抗值）
6. 报告生成：扫描后生成扫描分析报告，报告中包含：最终扫描图片、各种扫描参数设置、样品的A扫描波形图等；
7．软件可显示探头在水槽中的X/Y/Z三维坐标和当前所设定的扫描范围；
8．用户可自主选择XY轴移动方向、各种探头回位方式、以何种方式调用之前扫描保存的图片来获得扫描参数等；
9. 射频增益调节窗口：-22dB -50dB， 高级菜单设置
10. 图像分辨率：≥32000 * 32000 像素
专业工业控制计算机系统基本配置：
基本配置：CPU 3.5 GHz, Intel 四核处理器，16GB 内存，1T硬盘，DVD-RW刻录光驱，高速图像卡，Windows 10操作系统，USB及网络接口，1台 27' LCD 液晶显示器或 2台 22寸液晶显示器, 配置防静电操作台。
