HAST高加速应力测试老化试验箱

HAST高加速应力测试老化试验箱主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度、压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。

HAST高加速应力测试老化试验箱

HAST设备特点

标准设计更安全：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；

多重保护功能：各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；

稳定性更高：内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度。

湿度自由选择：饱和与非饱和自由设定；

智能化高：支持电脑连接，利用usb数据、曲线导出保存。

HAST高加速应力测试老化试验箱

用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度（偏压）高加速应力寿命老化试验。

应用领域： PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片