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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议三维13.5nmEUV/SXR复制镜
面议MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
面议激光驱动高亮EUV光源
面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
面议公司介绍:
美国XOS是一家、提供专用X射线整机分析仪器的公司。公司可以提供元素分析解决方案,以提高石油,消费品,环境测评行业的公共安全和客户效率。 产品涵盖针对不用应用行业的X射线荧光分析设备,同时包含高亮的微焦点X射线源、多毛细管X透镜和双曲弯晶聚焦镜等的X射线部件。
产品介绍:
使用双曲弯晶(DCC) 可获得三维聚焦的高单色性的X光。云母, 石墨, 硅, 锗等晶体材料适用能量范围为1.5-58KeV。这些晶体是基于布拉格衍射定律来实现对X光的反射。
主要特点
◆ X-ray 三维点对点聚焦
◆ 高度单色光
◆ 俘获角度大
◆ 高射线强度增益
◆ 长焦距
◆ 超低本底
◆ 高探测灵敏度
定制方案
XOS可根据客户应用定制DCC晶体解决方案
Table 1: DCC 晶体典型性能参数 | ||||
Element | Foucusing B (keV) | Focal Length (mm) | Collection Solid Angle (sr.) | Focusing Spot (μm) |
Cr | 5.4 | ≥ 100 | ≤ 0.015 | 200 |
Cu | 8 | ≥ 100 | ≤ 0.004 | 100 |
Mo | 17.5 | ≥ 120 | ≤ 0.001 | 100 |
Rh | 20.2 | ≥ 150 | ≤ 0.001 | 150 |
应用:
★单色光 XRF
★单晶XRD
★粉末 XRD
★微区分析
★X-ray 反射 (Metrology)
★为X-ray 成像提供更好的 P/B 比例,为医学成像应用提高了对比度
★波长色散光谱仪 (WDS)