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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议三维13.5nmEUV/SXR复制镜
面议MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
面议激光驱动高亮EUV光源
面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
面议公司介绍:
美国XOS是一家、提供专用X射线整机分析仪器的公司。公司可以提供元素分析解决方案,以提高石油,消费品,环境测评行业的公共安全和客户效率。 产品涵盖针对不用应用行业的X射线荧光分析设备,同时包含高亮的微焦点X射线源、多毛细管X透镜和双曲弯晶聚焦镜等的X射线部件。
产品介绍:
根据客户需求提供定制多毛细管x射线光学解决方案。
多毛细管准直透镜器件 将高度发散的 X 光束转换成低发散的准平行光束。这些透镜器件主要应用于 X 射线衍射 (XRD) 和波长色散谱 (WDS)。
多毛细管聚焦透镜器件 从 X 射线源收集 X 射线的大立体角,并将射线聚焦为小至 10 µm 的光斑。获得的 X 射线通量密度比用常规针孔准直器获得的高几个数量级。这些透镜器件的主要应用是微量 X 射线荧光 (XRF) 分析,广泛用于薄膜和电镀分析、贵金属评估、合金测量和电路板涂层监测。该透镜器件还可用于在诸如共焦 XRF 分析和超导能量色散 X 射线光谱仪等应用中进行检测。使用多毛细管聚焦透镜器件将显著提高检测灵敏度,并允许使用低功率 X 射线管实现高性能。微米级空间分辨率使之可应用于电子和贵金属小特性评估。多毛细管透镜器件提供 100x-10,000x 的增益,输出焦点可小至 10 µm。
来自微米级光斑的量级通量增益
• 与紧凑型低功率电源集成,可提供相当于旋转阳极源的通量
• 光谱带宽较宽:50 eV - 50 KeV
• 点对点会聚光束
• 点对平行光束
• 可定制设计机壳
• *的通量密度
• 提高了空间分辨率
• 非常适合分析形状不规则、未经制备或低阻抗的样品
• 增强检测灵敏度
• 无需特殊样品制备
• 在空气中操作
Focusing Optics |
Applications include micro-XRF for elemental mapping, plating thickness and fine feature analysis. | |||||||
Working distance (mm) | 2 | 4 | 9 | 20 | 50 | 100 | 200 | |
Focal spot size* (µm, FWHM, 17.4keV) |
7 |
15 |
25 |
45 |
100 |
180 |
300 | |
Intensity gain* (vs а plnhole collimator of same size, 100mm fгom the source) |
6000 |
4500 |
3500 |
2000 |
800 |
300 |
120 |
Note: *With а 100μm X-ray source.
Half-focusing Optics (XRF/XAS) |
Applications include micro XRF, micro XAS, and confocal XRF. | |||||
Working distance (mm) | 2 | 4 | 9 | 20 | 50 | |
Focal spot size* (µm, FWHM, 17.4keV) |
7 |
15 |
25 |
45 |
100 | |
Intensity gain* (vs a pinhole collimator of same size) |
850 |
550 |
400 |
200 |
80 |
Note: *With an incident beam of 2mm in diameter and a divergent angle of <0.5mrad
Collimating/Parallel Beam Optics (XRD/WDS/XRF) |
Applications include powder XRD, texture and stress analysis, WDS and confocal XRF. | ||||||||
Output beam diameter (mm) | 0.5 | 1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 10 | 15 | |
Intensity gain* | 12 | 45 | 130 | 250 | 370 | 470 | 680 | 850 |
Note: *With а 50μm X-ray source at 8keV, The lFD of the optics is 18mm and the output divergent angle is 0.2 degree.
Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas. |
Figure 2: 采用光晕抑制型毛细管实现高分辨率 XRF Mapping
Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas. |