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测头型号 | F400 | F1 | F1/90° | F3 | F5 | F10 | N1 | CN02 | ||
测量范围(um) | 0~400 | 0~1250 | 0~1250 | 0-3000 | 0-5000 | 0~10000 | 0~1250(铜上镀铬0~40) | 10~200 | ||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 1 | 1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
示值 | 一点校准(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
误差 | 二点校准(um) | ±((1~3)%H+0.7) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+3) | ±((1~3)%H+5) | ±((1~3)%H+10) | ±[(1~3)%H+1.5] | |||
测 试 条 件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 仅为平直 | ||
zui小面积的直径(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | ||||
基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 无限制 |
覆盖层 基体 | 有机材料等非磁性覆盖层(如漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属的覆层 (如铬、锌、铝、铜、锡、银等) | |||
覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | ||
如铁、钢等磁性金属 | 被测面积的直径大于30mm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm | F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
被测面积的直径小于30mm | F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm | |
如铜、黄铜、铝、锌、锡等有色金属 | 被测面积的直径大于5mm | N1型测头0-1250μm | N1型测头只能测铜上镀铬0-40μm | ||
塑料、印刷线路板等非金属基体 | 被测面积的直径小于7mm | - | - | CN02型测头10-200μm (主要用途测铜箔厚度) |