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ATX270涂层测厚仪

ATX270涂层测厚仪概述

ATX270涂层测厚仪/镀层测厚仪是一款便携式涂镀层测量仪，它能快速、无损伤、精密的进行涂镀层厚度的测量。即可用于实验室，也可用于工程现场。通过更换不同的侧头，还可以满足多种测量的需要。ATX220涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专用的仪器。

ATX270涂层测厚仪符合以下标准：

ATX270涂层测厚仪

ATX270涂层测厚仪功能特点

采用了磁性和涡流两种测厚方法：既然无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）又可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
OLED高亮液晶屏显示
可使用7种测头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（A-B）
设有五个统计量：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有打印功能，可以随时打印测量值
具有存贮功能：可存贮780个测量值
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警
具有电源欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式

ATX270涂层测厚仪技术参数

1. 一点校准(um)：±[2%H+1]
2. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]
3. 一点校准(um)：±[2%H+1.5]
4. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

1. 最小曲率半径(mm)：凸1.5 | 凹9
2. 基体最小面积的直径(mm)：ф7
3. 最小临界厚度(mm)：0.5
4. 最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
5. 基体最小面积的直径(mm)：ф5
6. 最小临界厚度(mm)：0.3

ATX270涂层测厚仪基本配置

ATX270涂层测厚仪可选附件