俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统 X光电子能谱仪

俄歇电子能谱及低能电子衍射分析系统
又称俄歇电子能谱AES及低能电子衍射LEED样品表面深度分析系统。基于俄歇电子能谱AES、低能电子衍射LEED、及氩离子溅射深度分布的分析系统，完成对薄膜及合金的元素组成和深度分布的分析。 参考价面议

PHI4700俄歇电子能谱仪 X光电子能谱仪

PHI4700俄歇电子能谱仪
俄歇电子能谱是透过使用电子束击打在固体样品上时，去分析被激发出的俄歇电子动能，以获取有关样品元素组成的信息。PHI4700薄膜分析仪，使用了世界灵敏度的能量分析仪（1.6Mcps Cu LMM 在10nA的电子束流时） 参考价面议

PHI710扫描俄歇纳米探针-电子探针

PHI710扫描俄歇纳米探针
1 . 使用CMA同轴分析器，同时实现高灵敏度和高传输率。即使在低电流高空间分辨率情 况下，都可轻松的进行分析 参考价面议

PHI quantera SXM扫描X射线光电子能谱仪-X光电子能谱仪

PHI quantera SXM扫描X射线光电子能谱仪
根据X射线扫描样品表面所得的二次电子像（ScanningX-ray Image,斑束直径为9-200微米）能正确而迅速地确定分析位置 参考价面议

深能级瞬态谱仪

深能级瞬态谱仪
Semetrol DLTS集成多种自动的测量模式及全面的数据分析，可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布，也可用于光伏太阳能电池领域中，分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。该仪器测量界面态速度快，精度高，是生产和科研中可广为应用的测试技术． 参考价面议

SurfaceSeer 飞行时间二次离子质谱仪

SurfaceSeer 飞行时间二次离子质谱仪
SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出*的仪器，*次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在短的分析时间内生成化学图像，突破常规实验室仪器的极限! 参考价面议

MS200-TOFMS便携式飞行时间质谱仪

MS200-TOFMS便携式飞行时间质谱仪
MS-200是一台便携式气体分析质谱仪，电池驱动，放置于携行箱内方便移动 · MS-200将实验室质谱仪的优点带到现场。测量未知样品的功能强大，拥有很好的鉴别能力、良好的精确度和*的灵敏度等优点 参考价面议

质子转移反应-飞行时间质谱仪

质子转移反应-飞行时间质谱仪
将质子转移反应器（PTR）与飞行时间质谱仪（TOF-MS）结合在一起，研发生产出PTR-TOF-MS，它是进行化学分析的一种强有力工具。 参考价面议

飞行时间质谱仪

飞行时间质谱仪
我们的飞行时间（TOF）质谱仪组件专门为离子生成、储存、分离和检测而设计，其专门用作激光烧蚀、解吸或电子轰击电离的TOF质谱实验组件。通过增加真空泵、激光器或数据采集等设备，可以建立独立的TOF质谱仪。整个系统采用标准的UHV法兰、组件和建构技术，这使得设计更具灵活性并且允许以后根据需要进行改变。 参考价面议

挥发性有机化合物（VOCs）监测仪 PTR-QMS 300-VOC检测仪

挥发性有机化合物（VOCs）监测仪 PTR-QMS 300
PTR-QMS 300 系列是用于监测挥发性有机化合物（VOCs）的超灵敏检测器，能够对挥发性有机物进行持续定量监测。 我们的 PTR-QMS系列产品,基于四级杆质谱的原理，结合可达到两个数量级的pptv超低在线检测限，具有超高的灵敏度和极快速的响应时间。 参考价面议

反射式飞行时间质谱仪（RETOF）组件 质谱部件及外设

反射式飞行时间质谱仪（RETOF）组件
C-726 40mm二重微通道板探测器专为处理角反射型飞行时间质谱仪提供的快速离子脉冲而设计。安装在补偿接头（C-854）上的该40mm MCP探测器的输出电阻为50欧姆，并且在亚纳秒级上升时间下具有很高的增益（10e6到10e7）。 参考价面议

直线式飞行时间质谱仪组件 质谱部件及外设

直线式飞行时间质谱仪组件
这是一种灵活、经济的仪器，可以根据用户的真空室进行改造。另外，它还可以安装在不同的方位上。 用户可以布置一个与用户的真空系统法兰匹配的真空室，也可以通过对仪器进行适当的改造使其与用户的已有真空室适配。 参考价面议