少子寿命测量仪BCT-400

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.

因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的较敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。

作为较易于使用的测量工具--BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。

产品简述：

1.用途（高频光电导）

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块

体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体

内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2.设备组成

2.1光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ 光脉冲关断时间＜1μｓ

红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶） 脉冲电流：5A～20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源