XRF涂镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作，快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。
MAXXI 6针对较薄而复杂的样品，具有上乘的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱，是*佳功能性与*高检测精度兼备的理想工具。

分析层数&元素数量 

• 自定义（在元素范围内） 

• 自定义镀层结构,含合金镀层 
 
X射线激发 

 • 50 kV, 1.2 mA (60 W) 高压发生器 

• Be窗微聚焦W阳极靶射线管(Mo阳极靶射线管可选) 
 
探测器

• 25 mm2 SDD探测器Peltier电制冷 

• 能量分辨率140 eV  (FWHM for MnKα ) 
 
一次绿光片(选配件)  

• 多至5位自动切换一次滤光片 
 
准直器  

• 单准直器: 0.1 x 0.4 mm, 0.1 x 0.7 mm, 0.1 mm, 0. 3 mm,  0.5 mm, 0.7 mm Ø  

• 8位程控交换准直器系统   0.05 x 0.05 mm, 0.1 mm x 0.3 mm, 0.05 mm x 0.25 mm, 0.1 mm,    0.2 mm, 0.3 mm, 0.5 mm, 1 mm Ø (选配件) 
 
数字脉冲处理器 

• 4096 CH 数字多道处理器 

• 含死时间校正和脉冲累积消除功能的自动信号处理