半导体后道设置的Nordson MATRIX XS系列是一个自动化的检测平台，专 门设计用于在Stripe或JEDEC托盘上对半导体后道精密复杂产品(例如重叠 的邦定线或密集邦定线领域)进行精密的高速检测。

参数和优势 

1.在线高速AXI系统 

2.微焦距X射线灯管(闭管/免维护) 

3.多达5轴可编程伺服马达传动系统 (X-Y样品盘，Z轴，X射线管，U/V检测器) 

4.数字CMOS平板探测器 

5.自动灰阶及几何校验 

6.可自动调宽的在线传板系统 

7.提供MES接口客制化以实现完整的产品可追溯性

应用范围 

半导体 / 引线键合检测 

*的上等算法库可用于检查： 

1.半导体应用 

2.引线键合检测(前/后) 

3.薄且复杂的PCB 

4.柔性电路 

5.芯片贴装空洞