EA1200VX-日本日立桌上型X射线荧光分析仪

EA1200VX-日本日立桌上型X射线荧光分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-10-22 16:19:58
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昆山嘉富亿电子科技有限公司

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产品简介

多方位分析应用高阶桌上型XRF(X射线荧光分析仪)
•  高精密度成份分析
•  RoHS有害物质分析
•  材料中的主成份或微量成份分析效果极JIA
•  金属电镀膜厚测试
•  可对应环境、油品、古物及艺术等不同领域分析需求

详细介绍

项目规格
产地日本
测定元素范围钠(Na11)~铀(U92)
样品型态固体、液体、粉末皆可
X射线源管电压:15 kV、30kV、40 kV、50 kV(可调式)
管电流:1mA(10~1000μA自动调整ZUI适电流输出)
X射线照射方向斜下方照射型
检测器Vortex SDD(Hitachi专LI,多阴极硅半导体检测器)
冷却方式电子冷却(不需液态氮)
准直器(分析区域)1、8 mmφ(自动切换)
样品观察高解析彩色CCD镜头
滤波器自动切换
样品室430(W)×320(D)×195(H) mm
仪器尺寸580(W)×650(D)×513(H) mm
重量95Kg(不含计算机及屏幕)
定量分析功能■ 微量元素成份定量分析
■ RoHS有害物质分析
■ 无卤规范有害物质分析
■ EN71-3有害物质分析
■ 电镀膜厚测定
■ 元素分析FP法
■ 元素分析检量线法
■ HS快速分析模式
定性分析功能■ 微量元素成份定性分析
■ 元素分析
■ 能谱比对
■ 元素自动辨别比对
标准配件■ EA 系列专用桌上型Dell计算机(含液晶屏幕、鼠标、键盘)
■ RoHS塑料有害物质标准品(日本国家YIJI认证单位Jab认证)
■ 仪器硬件确认片一组(含强度、能量、分辨率及光径校正)
■ 样品杯
■ 样品杯用测试薄膜
可加购选项■ 真空系统
■ 12个样品自动转盘
■ 3mmφ准直器
■ 环境限制用标准物质(无卤 、EN71-3、Sb锑、Sn锡、P磷、S硫)
■ 金属电镀膜厚标准品
■ 油压机与制锭机
设置需求建议桌面尺寸:1500(W)×1000(D) mm
使用电源:AC100~240V(50~60Hz)/180VA





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