一、高低温冲击箱用途：

　　适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电

工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相

关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），适应于仪器、仪表、电

工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出

的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试

工具.

二、高低温冲击箱满足标准：

1. GB10589-89 低温试验箱技术条件

2. GB11158-89 高温试验箱技术条件

3. GB10592-89 高低温试验箱技术条件

4. GB2423.1 低温试验、试验A

5. GB2423.2 高温试验、试验B

6. GB2423.22 温度变化试验、试验N

7. IEC68-2-14 试验N

8. 国军标GJB150.3-86

9. 国军标GJB150.4-86

10.GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

11.GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法

三、设备特性：

◆　产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备

      性能。

◆　设备分为三部分，采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热

       风路切换方式将冷，热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

◆　采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制

      器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠，中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲

      线。

◆　具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷

     机自动运转，zui大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停

     止工作运行；

◆　箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。

◆　可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择

      三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。

◆　具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部

     采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高

◆　先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角完备的安全保护装置，避

     免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性。

◆　可设定循环次数及除霜次数自动（手动） 除霜.

◆　出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为５秒内完成，冷热温度恢复时间为5

      分钟内完成。

◆　运转中状态显示及曲线显示发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除

     故障的方法。

◆　冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美进口压缩机，并采用对

      臭氧系数为零的绿色环保HFC）制冷剂R404A，R23.

四、控制方式与特色:

      利用低温及高温蓄冷热储存槽，依动作需要打开DAPER，达到快速冲击效果；平衡调温控

制系统(BTC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定使用。

五、技术参数：

1、 温度范围：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃（选用）

2、 温度上限：+200℃

3、 温度下限：-75℃

4、温度偏差：±2℃

5、 温度波动度：±0.5℃

6、 温度恢复时间：5min

7、 温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min，低温-40℃保温≥30min.

8、 试品转移方式：采用气动

9、试品重量：≤12kg

10、高温升温时间：30min (+25℃～+155℃)

11、低温室降温时间：65min (+25℃～-55℃)

12、噪音：（dB）≤65

13、电源：AC380V±10％/50/60Hz+保护接地

14、总功率：8.5KW

六、型号及内箱尺寸：选型

ZT-30A-S　       W宽300XH高350XD深300mm

ZT-50A-S　       W宽350XH高400XD深350mm

ZT-80A-S　       W宽400XH高500XD深400mm

ZT-150A-S　     W宽500XH高600XD深500mm

ZT-252A-S        W宽600XH高700XD深600mm

ZT-408A-S        W宽750XH高800XD深800mm