利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

镀层测厚仪X-Strata系列提供：
无损分析：无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
操作简单，只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。

镀层测厚仪-X-Strata系列
X-Strata920 – 性价比高，无损可靠
一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。
新型号设计
快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析

一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品
快速、精确分析固体、液体和粉末
程控台的大样品舱方便样品摆放和测量（可选）
集成电脑节省了台式仪器的空间
高分辨率检测器使检测下限降到
应用广泛，包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析

X-Strata920 - 三种配置满足您的需要：
固定样品台
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
经济、实用
平面样品台设计，适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析

加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可调，架构式样品舱可容纳高度6.3"(160mm)的样品
可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度

程控样品台
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品，并精准定位测量点
开槽式样品舱允许检测大型平板样品，如印制线路板
样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)