镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的一致性和高品质。
1、高分辨率的硅漂移器（SDD）
2、开槽式超大样品舱设计
3、8个准直器4、USB接口与计算机连接

我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。

镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱，针对较薄而复杂的样品，具有的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。

亮点

1、采用微聚焦X射线光管，实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
2、采用高分辨率的硅漂移探测器（SDD），提供能量级别的效率，极低的检出限（LOD）
3、多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率
4、开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品
5、“USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件
6、德国制造，符合工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性
7、通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足辐射安全标准