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面议日本菊水TOS7210S (SPEC80776) PID绝缘测试仪 PID绝缘测试仪(TOS7210S)是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估,以绝缘电阻测试仪(TOS7200)为基础设计而成的测试仪。 附有极性切换功能,输出电压可达2000V,同时装载了n*分辨率的电流表,因此不仅可以进行PID评估,还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及RS232C接口,因此也可以灵活对应自动化系统。
PID绝缘测试仪(TOS7210S)是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估,以绝缘电阻测试仪(TOS7200)为基础设计而成的测试仪。
附有极性切换功能,输出电压可达2000V,同时装载了n*分辨率的电流表,因此不仅可以进行PID评估,还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及RS232C接口,因此也可以灵活对应自动化系统。
什么是PID现象?
PID现象是指太阳能电池与边框*被施以高电压,电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高,越是在高温、高湿的环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十V,一旦直接连接的片数增加,串内的电位差将变得非常高。一方面,PCS(Power Conditioning System)作为交流电源与系统相连,使接地形态发生变化。输入端采用浮接(一侧电极不能接地线)的无变压器方式近年有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。现在可明确的是,晶体硅太阳能电池模块中,相对于边框(接地线)负极电位高的电池容易发生PID现象。(请参照图1)目前,日本国内以*大600V、欧洲以*大1000V的系统电压运行太阳能电池模块,但是目前出现了提高*大系统电压以削减企业用大规模太阳能发电系统的串数、PCS总数,提高发电效率的趋势。
图2模拟了晶体硅太阳能电池模块的处于高电位差的状况。边框为正极电位、模块电路处于负*电位的状况。目前认为是由于超白钢化玻璃内的钠离子向电池侧迁移而引起劣化。(薄膜太阳能电池模块也被确认出现PID现象,但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。)现在,各种研究机构正在通过研究、试验查找PID现象的原因
特长
可任意设定输出电压
可将对被检品施加的测试电压设定在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范围内。假设太阳能发电系统的电压在1000V以上,可对其进行评估。此外,在电气/电子部件、电气/电子设备的绝缘电阻测试中,也可对应JIS C 1302: 1994所规定的电压范围以外的测试。在50V-1000V范围内,输出特性以JIS C 1302: 1994为基准。
极性切换功能
可通过主机面板的开关轻松切换输出极性。PID现象是一种可逆现象,施加负偏压电压可能会恢复。极性切换是一项不需要对被检品实施配线变更的便利功能。此外,通过RS232C接口可实施由外部控制的切换。
建立输出端的浮地
输出端子与接地电位间为浮地状态(*1)。此外,使用屏蔽电缆作为输出电缆 (TL51-TOS)。这样就不会测量被检品与大地间的电流,只测量测试点间的电流,可确保评估测试的高敏感度和精确性。
*1:设定为正极的端子的对地电压(±1000Vdc)设定为负极的端子的对地电压(+1000Vdc及-3000Vdc)
模拟输出端子
在电阻显示模式中,基于对数压缩将对应电阻测量值的电压输出限制在0V-4V之间。在电流显示模式中,对应电流测量值及测量量程(4个量程)按线性标度输出。使用数据记录器等外部记录设备可对被检品的变化、劣化状况进行解析。
阵容
型号 | 规格 |
TOS7210S (SPEC80776) | PID绝缘测试仪(TOS7210S)是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估, 以绝缘电阻测试仪(TOS7200)为基础设计而成的测试仪, 可在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范围内实施设定, 可通过面板侧的开关即时切换施加电压极性, 输出端子与接地电位间为浮地状态, 只测量通过测量点间的电流. 可对电流测量值或电阻测量值进行切换显示, 测试线(TL51-TOS)包括 |