NANO-FLEXZeta电位及纳米粒度分析仪-Microtrac麦奇克

公司介绍：

美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上的激光应用技术研究和制造厂商，其*的激光粒度分析仪已广泛应用于水泥，磨料，冶金，制药，石油，石化，陶瓷，等领域，并成为众多行业的质量检测和控制的分析仪器。Microtrac Inc.公司非常注重技术创新，近半个世纪以来，一直*着激光粒度分析的前沿技术，可靠的产品和强大的应用支持及完善的售后服务，使得其不断超越自我，推陈出新。

Microtrac在在线颗粒大小和形状测量方面有超过25年经验，了解过程加工环境的所有需求，在线测量的好处就是让操作者能实时的看到过程的变化，使他们立即作出反应，得到高质量的产品。

仪器简介：
纳米粒度测量——新动态光背散射技术
随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器UPA（UltrafineParticle Analyzer）研发成功，引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和异相多谱勒频移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技术，结合动态光散射理论和*的数学处理模型，NPA150/250将分析范围延伸至0.3nm-10μm,样品浓度更可高达百分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度高出几个数量级。另外，新型“Y”型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，*的减少了背景噪音，提高了仪器的分辨率。

测量原理：

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理
分子量测量：水力直径或德拜曲线

光学系统：

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统：

*的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和*等。

外部环境：

电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
环境要求：温度，10-35°C

标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特点：
﹡采用新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法
﹡专li的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。
﹡专li的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。
﹡超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。
﹡专li的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。
﹡专li膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。
﹡消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。

NANO-FLEXZeta电位及纳米粒度分析仪-Microtrac麦奇克实物图：

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