详细介绍

6332A/B 光回波损耗测试仪

6332A/B光回波损耗测试仪内置2×2光开关，可快速实现光器件插入损耗和回波损耗双向测试。光回波损耗测试时，不需要在光纤末端进行缠绕操作或使用匹配液，显著提高光回波损耗测试效率。通过内置激光器功率检测模块，实现光插入损耗准确测试。产品广泛应用于光纤通信科研、教学和生产领域。

主要特点

回损测量无需缠绕或使用匹配液

仪器采用光时域反射技术，区别于传统的光连续波反射技术，相应地避免了光回波损耗测量过程中的缠绕或者使用匹配液，提高了测试效率。

适应不同产品的端面回损测试，待测光纤跳线短至70cm

不同型号仪器测试的回波损耗分别能低至14dB和高达80dB，这样，可以根据产品回波损耗值来选择不同型号的仪器。仪器设计了窄脉宽的激光器脉冲光驱动电路，当待测光回波损耗超过40dB时，待测光纤跳线可短至70cm。

全自动双波长光插回损同时测试

测试过程中，选中双波长之后，参考测试可显示双波长的输出光功率，待测件测试可显示双波长的光插入损耗和光回波损耗测试结果。

单向和双向测试，缩短测试时间

仪器通过内置2×2光开关，可以从不同输出端口输出脉冲光，从而实现单双向测试功能。双向测试时，一次连接光纤跳线的两个端面，一次测试即可测出跳线的光插入损耗和这两个端面的光回波损耗，从而使测试时间减半。

设定不同插回损阈值

进入仪器设置测试条件界面，在插入损耗阈值和回波损耗阈值后面的窗口中输入相应的数值，那么在测试结果中插入损耗高于阈值和回波损耗低于阈值会显示为红色，其他为蓝色。

如下图所示，使用6332A/B光回波损耗测试仪同时测试FC/APC—FC/APC型跳线的光插入损耗和光回波损耗。

对6332A/B光回波损耗测试仪进行参考测试之后，接入待测跳线，点击测试键，

即可测出待测光纤跳线的光插入损耗和光回波损耗。

技术指标：