FLS 106 IC set ，IC高频近场扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。 使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源 使用ICR-探头（旋转单元） 工作状态下对集成电路的采样 四轴定位系统 可提供一个扫描台 GND/CB 和附件随后交付 顾客进行测试时用到的其他附件在协商后也包含在供货范围

FLS 106 IC set IC高频近场扫描仪内容：

1x FLS 106 IC

1x CS-Scanner, ChipScan-Scanner

1x GND 25

1x DM-CAM

1x Rotary unit

1x DM-CAM holder.3, SMA

1x FLS 106 IC acc

技术参数：

 FLS 106 IC主机

ChipScan-Scanner 软件 

ChipScan-Scanner软件用于自动测量电子组件的近电场和近磁场，该软件可以在电子组件上方的某一平面或某一空间范围内进行检测，可以显示测量结果。从而精确快速的评估近场，并对测量结果进行多种处理和分析；还能方便地输出图像和数据，例如文档或进一步的数学分析。