鼎极天膜厚测试仪X射线衍射装置
 　简单地说萤光X射线装置（XRF）和X射线衍射装置（XRD）有何不同,萤光X射线装置（XRF）能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置（XRD）能得到某物质中的结晶信息。

  具体地说,比如用不同的装置测定食盐（NaCl）时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠（Na）和氯（Cl）构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由（NaCl）的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置（XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置（XRD）就很难判定,必须先用萤光X射线装置（XRF）得到元素信息后才能进行定性。
主要特点

鼎极天膜厚测试仪技术参数

可测元素：Ti～U

X射线管：管电压45KV，管电流1mA

检测器：比例计数管

样品观察：CCD摄像机

对焦方式：激光自动对焦

测定软件：薄膜FP法、检量线法

准直器：2个（0.1mm，0.025*0.3mm）

安全机能：测量室门自锁功能

Z轴防冲撞功能

仪器自诊断功能

SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息（组成和镀层厚度）的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息（构造）。而透过X射线多用于拍摄医学照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。

简单地说萤光X射线装置（XRF）和X射线衍射装置（XRD）有何不同,萤光X射线装置（XRF）能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置（XRD）能得到某物质中的结晶信息。

鼎极天膜厚测试仪原理
  采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。