膜厚仪,镀层测厚仪,膜厚测试仪,X射线测厚仪,镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪
深圳市鼎极天电子有限公司是香港鼎极有限公司全资子公司,主要经营*的精密分析仪器与设备.致力于研发,制造和销售高效节能照明灯系列产品.提供实验分析项目和照明节电的整体解决方案.
分析仪器部作为牛津仪器(OXFORDINSTRUMENTS)的中国区域一级代理商已十多年,拥有专业销售及维修工程师,备有充足零配件储备,专注于CMI系列测厚仪器产品在国内的销售与维护。为全国各地的电路板,半导体,连接器,汽车,五金等制造厂商及高校,科研机构,质量检测中心等广大客户提供快捷、良好的售前及售后服务和技术支持。
欧德司照明事业部(odsLighting)致力于研发,制造和销售自主知识产权品牌ods高效节能照明灯系列产品和节电方案.在照明节能领域处于世界优先水平.为客户提供了Z高性价比的创新高科技产品,为合作伙伴提供*竞争力的投资项目.营造低碳环保的生活工作环境,为共建绿色地球而努力!
精密实验室测试设备:各种精密实验室测试设备,我们配套供应.
如有任何需要请联络我公司,我们将为你提供快速优质的服务。
产品简介
XRF镀层测厚仪提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的*性和高品质。
详细信息
MAXXI 6
XRF镀层测厚仪提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的*性和高品质。
- 高分辨率的硅漂移器(SDD)
- 开槽式超大样品舱设计
- 8个准直器
- USB接口与计算机连接
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。
XRF镀层测厚仪配备多准直器系统及超大样品舱,针对较薄而复杂的样品,具有*的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
亮点
- 采用微聚焦X射线光管,实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
- 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的*效率,极低的检出限(LOD)
- 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率
- 开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品
- “USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件
- 德国制造,符合zui高工程标准,坚固耐用的设计可实现*可靠性
- 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足zui高辐射安全标准
XRF镀层测厚仪性能及符合性
开槽式大样品台
- 可编程的XY样品台
- 样品腔体积:500 × 450 × 170 mm
- 创新的防撞设计
可编程的样品台
- 预定位激光技术
- zui大化的样品台行程范围及速度
- 自动测量
XRF镀层测厚仪软件及校准
- 基于WindowsTM 7操作系统,直观的软件MaxxControl
- 选择经验校准以实现zui大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准
- 成分分析:可自由选择元素;厚度测量:可自定义镀层结构
- 对RoHS和贵金属进行工厂预装校准(可选)