当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）要求进行参数测试，以便限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。

S500 集成式测试系统是高度可配置的、基于仪器的系统，适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器，提供创新的测量功能和系统灵活性，并且根据您的需求可进行扩展。的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 (ACS) 软件，提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。

S500 功能
全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格，包括 subfemtoamp 测量，确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV（电荷陷阱分析）和 PIV 扫描（自加热回避）的脉冲生成和超快 I-V。
利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器，提供低或高通道数系统，包括并行测试。
适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
开关、探头卡和布线保证系统适用于您的 DUT。