Discovery SDT 650 同步差示扫描量热仪/热重分析仪

美国, 特拉华州New Castle 市，2017年3月6日—TA仪器隆重推出全新的同步差示扫描量热仪/热重分析仪- Discovery SDT 650。

Discovery SDT 650拥有灵敏度、基线稳定性、温度及气氛控制性能。SDT 650是TA*技术的同步热分析仪，包括Modulated DSC®，Modulated TGA，及Hi-Res TGA，集*技术于大成，势必会开拓仪器分析的新领域。SDT 650是能够同时测试热流和热重的系统。另外，SDT 650可以同时做双样品的TGA测试，TA专有的这项技术,将会有力的提高实验室工作效率。

同步热分析仪SDT 650能同时得到样品随着时间和温度变化的热流及重量变化信息。温度范围从室温至1500°C、各种材料均可在SDT 650进行实验，很好地满足生产监控以及科研开发等需求。

TA仪器总裁Terry Kelly此次评论说:“我们从未有过在一台仪器上赋予如此多的功能，包括准确的热流、重量测试，*的技术以及强大的自动化操作系统。TA自2016年推出新的Discovery系列以来受到广泛的赞誉，客户表示“获得优异的数据，从无如此简单过！” SDT 650势必会成为热分析实验室很大的分析表征仪器”

SDT 650标配了TA的卧式双杆热天平技术与创新的快速连接杆设计，确保了使用和时间上的灵活性。与所有TA热分析仪器一样，SDT 650测试炉提供5年质保。

仪器配置30位的线性自动进样器。该设计坚固可靠并大大提高了实验测试效率，允许用户进行灵活的实验编程、自动无人化操作、仪器自动校准和验证。