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红外探测器性能参数测试系统

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2023-07-08北京市
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光电子仪器
产品简介
产品名称:红外探测器性能参数测试系统产品简介:美国ISDC公司(InfraredSystemsDevelopmentCorporation)是一个设计和生产高质量红外测量系统和仪器的专业厂家
详细信息
产品名称:红外探测器性能参数测试系统
产品简介:美国ISDC公司(Infrared Systems Development Corporation)是一个设计和生产高质量红外测量系统和仪器的专业厂家。从上世纪50年代开始,该公司的产品就在生物科学、航空航天研究等领域得到广泛的应用。该公司还可以根据用户的特殊要求和预算,提供各种测试问题的解决方案,设计开发相应的光电系统和相关软件。ISDC公司的产品在我国内高等院校,研究所等科研生产单位有许多用户
详细介绍:

可见光、短-中-长波红外探测器基本参数自动测量系统

可测量主要探测器包括: Si, InGaAs, Ge, InSb, PbS, PbSe, HgCdTe,Pyroelectric等

可测量主要参数包括: 探测灵敏度(D*),响应灵敏度(Rv,Ri),噪声谱,光脉冲响应,红外响应光谱,NEP,NEI,NEN,表面均匀性,量子效率等

高质量、精密的光学和电子设备与特定的软件相结合具有灵活多样性,允许用户完成不同的实验,产品验收和测试任务。

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