奥林巴斯原装38DL PLUS多功能超声波测厚仪

38DL PLUS是一款高超声测厚仪。这款仪器可使用双晶探头对内部腐蚀的部件进行检测。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂层）和回波到回波。还可以使用单晶探头对薄材料、极厚材料以及多层材料进行非常精确的厚度测量。

性能高级、操作简便、坚固耐用、结果可靠

 38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。

 38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

这款测厚仪与其他测厚仪有何不同？

 38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。

 抵御恶劣环境的能力

奥林巴斯原装38DL PLUS多功能超声波测厚仪主要特性

 •    可与双晶和单晶探头兼容。

•    宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。

•    使用双晶探头进行腐蚀测厚。

•    穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。

•    内部氧化层/沉积物软件选项。

•    对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

•    使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。

•    多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。

•    高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

•    厚度、声速和渡越时间测量。

•    差分模式和缩减率模式。

•    时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。

•    带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。

•    用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

•    设计符合EN15317标准。

数据记录器和PC机接口

 38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。

•    内置存储容量为475000个厚度读数或20000个带有厚度读数的波形。

•    32位字符的文件名称。

•    20位字符的ID# (TML#)编码。

•    9个文件格式：增量型、序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、3-D自定义型、锅炉型及手动型。

•    每个ID# (TML)编码可最多存储4个注释。

•    注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上。

•    内置和外置MicroSD存储卡。

•    可以在内置和外置MicroSD存储卡之间拷贝文件。

•    标准USB和RS-232通信。

•    单晶和双晶探头设置的双向传输。

•    机载统计报告。

•    机载DB栅格视图，带有3种可编程的颜色。

•    GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信，可以读取MicroSD存储卡上的数据，还可以在存储卡上写入信息。

•    可将内部文件以与Excel兼容的CSV（以逗号分隔值）格式直接导出到MicroSD存储卡。

技术规格