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JIMA RT RC-02B X射线分辨率测试卡 质量分析仪
具体成交价以合同协议为准
2022-11-01深圳市
- 型号
产品简介
JIMA RT RC-02B X射线分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
详细信息
JIMA RT RC-02B X射线分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT RC-02B分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
图案布局：L型
线/空间尺寸： 16种规格图案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-04 X射线分辨率测试卡
JIMA RT RC-05分辨率测试卡
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