产品简介
JIMA RT RC-04分辨率测试卡JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
详细信息
JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT RC-04分辨率测试卡
- 测试卡封装在一个防护盒中
- 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
- 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
图案布局:T型
线/空间尺寸:32种规格图案,
JIMA RT CT-01分辨率测试卡(于三维CT系统分辨率测试)
- 测试卡封装在一个防护盒中
- 图案布局:T型
- 线/空间尺寸:5种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-02分辨率测试卡
- 测试卡封装在一个防护盒中
- 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm
- 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm
- 图案布局:L型
- 线/空间尺寸: 16种规格图案,
JIMA RT RC-05分辨率测试卡
- 测试卡封装在一个防护盒中
- 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
- 芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
- 图案布局:T型 (3-10μm)
- I 型 (15-50μm)
- 线/空间尺寸:16种规格图案,