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仪器简介:日本精工膜厚仪SFT-9500系列
SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合,产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束。 所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时,SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器(无需液氮),在测量镀膜厚度的同时,对于欧盟的RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。
技术参数日本精工膜厚仪SFT-9500系列
序 号 | 项 目 | 参 数 |
1 | 可测量元素 | 原子序数13(Al)~83(Bi) |
2 | 聚光方式 | X射线聚光 |
3 | X射线源 | 管电压:50kV |
4 | 检测器 | Vortex®检测器(无需液氮) |
5 | 分析范围 | Φ0.1mm、Φ5mm |
6 | 样品观察 | 彩色CCD摄像头(附变焦功能) |
7 | 滤波器 | 3种模式自动切换 |
8 | 样品室 | 样品平台 240(W)×330(D)mm |
9 | 重 量 | 123kg(不含电脑) |
10 | X-ray Station | 台式电脑 19"LCD(OS; MS-Windows XP®) |
11 | 膜厚测量软件 | 薄膜FP法(多五层,各层十种元素) |
12 | 定量分析功能 | 块体FP法 |
13 | 统计处理功能 | MS-EXCEL®、 MS-WORD® |
14 | 安装环境 | 温度:10℃~35℃(±)5℃ |
15 | 电 源 | 接地三头插座 AC100、15A |
主要特点:
★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十倍以上的X射线强度,从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。
★ 无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时,高分辨率的检测器是*的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率,而且可以实现高计数率。同时,由于使用了电子冷却方式,所以无需液氮。
★ 能谱匹配软件(选配件)
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
★ 块体检量线软件(适用于电镀液分析) (选配件)
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
★ 绘图软件(选配件)
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
★ 电镀液容器(选配件)
★ 各种标准物质(选配件)