《波长色散 X 射线荧光光谱仪校准规范》修订征求意见
- 2021/1/4 13:38:38 32558
- 来源：仪表网
【仪表网 仪表标准】近日，根据市场监管总局办公厅关于下达《2020年国家计量技术规范制定、修订及宣贯计划》的通知，由中国计量科学研究院为主等单位承担了《波长色散×射线荧光光谱仪校准规范》的修订工作，目前该校准规范征求意见稿等文件现已完成。
为了使上述国家计量技术规范能广泛适用和更具操作性,特向全国各有关单位征求意见,希望专家们在百忙之中抽出时间对征求意见稿提出宝贵意见和建议。征求意见截止时间为 2021年02月10 日。意见或建议可以通过邮件： fenglx@nim.ac.cn和 mengjr@simt.com.cn
据悉，JJG 810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》国家计量检定规程自1993年2月实施至今已将近30年。
然而，随着波长色散X射线荧光光谱仪技术的发展，仪器本身的部件及功能也有了长足的改进。在仪器整机方面，与20 世纪80 年代的仪器相比，现在仪器的体积缩小到原来的二分之一以下，重量更是大大减轻。仪器功能方面，在元素谱峰的平滑、谱峰的查找、背景的扣除、峰值的剥离、多重谱线显示等方面均提供了多种有效的功能，此外，数据处理系统的“智能化”程度也越来越高。
总之，随着技术的进步，近年来波长色散X射线荧光光谱的仪器性能已经有了长足的发展，其性能指标也是越来越高。而《JJG 810-93波长色散X射线荧光光谱仪》计量检定规程已实施了二十五年，一些技术性能指标都是针对七八十年代生产的仪器所制定的，就目前的仪器现状和计量术语要求来看，规程不太适应，而且也没有体现该仪器作为计量器具所具有的特点。更为重要的一点是，原JJG 810-93规程的检定指标中并没有体现溯源性，也没有相关标准物质的信息，难以保证终测量结果的准确性和有效性。
综上所述，原规程已不适应目前广泛使用的波长色散波长色散X射线荧光光谱仪的检定要求，所以要对原规程进行适当的修订，使之能适用于当前计量检定的需要。
与JJG 810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》相比，除编辑性修改外，本规范的主要技术变化如下：
— 增加引言作为必备内容；
— 对精密度的技术指标及校准方法进行了修改；
— 对稳定性的技术指标及校准方法进行了修改)；
— 增加了灵敏度技术技术指标及校准方法；
— 对计数线性的技术指标进行了修改。
波长色散X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析，其测定范围可从0.0001%~100%(w/w)。工作基本原理是X射线管发出的初级X射线激发样品中的原子内层电子跃迁产生空穴，外层轨道电子填补这一空穴时产生特征X荧光射线，通过晶体分光并用探测器对特征X射线进行测量，根据各种元素特征X射线的波长和强度进行元素的定性和定量分析。
《波长色散 X 射线荧光光谱仪校准规范》适用于顺序型波长色散X射线荧光光谱仪和多道X射线荧光光谱仪(以下简称仪器)主要性能指标的校准。（详情详见附件）
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