《光热透镜法弱吸收率测试仪》团体标准征求意见
- 2024/3/5 17:11:23 22022
- 来源：仪表网
【仪表网 行业标准】由中国光学光电子行业协会组织相关企业起草的团体标准《光热透镜法弱吸收率测试仪》(项目计划号T-2024-0003)已经完成征求意见稿，按照相关规定，现公开征求意见。意见反馈邮箱：zhs@coema.org.cn。
近年来，随着高能激光的发展，对光学材料提出越来越高的要求，而光学材料由于制造工艺(生长工艺)、原材料杂质的存在，不可避免的存在吸收。随着光学材料研究的进一步深入，人们对于材料吸收系数的研究越来越深刻。
当用强的激光照射某一透镜时，该介质可将吸收的能量周期性地转变成热能，使材料本身及周围介质的温度升高，从而引起其折射率的变化，使得透镜的焦距发生改变，引起波形变化、退偏等现象产生，进而使得激光系统不稳定。传统意义的测量方法是无法测量到ppm量级的吸收系数，而如此小的吸收系数就能给激光系统带来不可想象的困难。因此，很有必要测量材料的吸收系数，通过测量吸收系数一方面可以为选择合适的光学材料提供参考，另一方面可以帮助材料生产厂家在研究造成吸收大的原因时，从源头上解决吸收问题。
为推动光热透镜法测弱吸收和光热透镜法弱吸收率测试仪的使用，制定光热透镜法弱吸收率测试仪的产品标准成为行业的当务之急。光热透镜法弱吸收率测试仪标准的制定，第一，可明确光热透镜法弱吸收率测试仪的定义及范围；第二，可规定统一的技术标准，规范市场；第三，可为用户选择合适的光学材料提供依据以及为研究人员提供新的测试方法，极大方便了广大用户群体。
本文件按照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件起草单位：福建福晶科技股份有限公司、中国科学院福建物质结构研究所、闽都创新实验室、中国工程物理研究院化工材料研究所。
本文件给出了光热透镜法弱吸收率测试仪(PLI)的原理、要求、试验方法、检验标准、标志、包装、运输及贮存、质量保证等。
本文件适用于透射式探测构型的光热透镜法弱吸收率测试仪(PLI)对激光晶体、元件的表面吸收(或薄膜吸收)、体吸收。
原理：
光热透镜法弱吸收率测试仪(PLI)利用一束泵浦激光照射样品表面，样品产生表面形变分布或体内折射率梯度分布，形成热透镜效应。同时用另一束探测激光照射在样品同一区域时，探测激光的中心光强的变化可作为光热信号。校准由光电探测器探测得的光热信号，通过信号处理、数据分析获得被测样品的吸收值。
透射构型的光热透镜法弱吸收率测试仪使泵浦光束与探测光束的交点沿着样品深度方向运动，可区分测量表面吸收和体吸收。用该交点对样品进行二维或三维扫描测量，可绘制样品吸收或吸收率的二维或三维分布图。
型式检验：
凡属于下列情况之一者，应按本标准进行型式检验：
a) 新仪器或者老仪器转厂生产的试制定型鉴定；
b) 正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响仪器性能时；
c) 仪器长期停产，恢复生产时；
d) 正常生产，按周期进行型式检验；
e) 出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时；
f) 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。
g) 用户提出进行型式检验的要求时。
本标准给出的光热透镜法弱吸收率测试仪的光热方法，在国内外广泛应用于激光晶体、光学元件等的弱吸收测量和吸收分布，仪器装置经实践检验为对弱吸收灵敏度较高的弱吸收测量仪器，经反复的数据积累和技术优化，可快速高效应用于科研和企业的性能研究和质量控制。
经本标准规范的光热透镜法弱吸收率测试仪，将与国际先进标准接轨，其吸收测量和成像结果在国际上具有可比性，利于国内外的学术交流和光学产品的流通，同时亦可推动光热透镜法弱吸收率测试仪仪器产业进一步发展。
全部评论