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　　【仪表网 行业标准】近日，由中国工程物理研究院应用电子学研究所 、上海市计量测试技术研究院 、美信新材料股份有限公司 、江苏省质量和标准化研究院等单位起草，TC323(全国电磁屏蔽材料标准化技术委员会)归口的国家标准计划《电磁屏蔽材料高功率微波屏蔽效能测量方法》征求意见稿已编制完成，现公开征求意见。
 

　　近年来，高功率微波技术的快速发展对民用航空、通信设施、电网、计算机网络等的正常工作造成了极大的威胁，因此亟需开展高功率微波防护技术研究。采用电磁屏蔽材料从空间上对高功率微波能量进行衰减，从而达到防护加固的效果，是一种重要的防护手段。屏蔽效能是电磁屏蔽材料最重要的性能参数之一，准确测试、表征材料屏蔽效能对其实际防护应用具有至关重要的作用。
 

　　目前，针对连续波信号激励下的材料电磁屏蔽效能测试，国内已经形成了一套成熟的测试方法并发布了国标(GB/T 30142-2013《平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》)。然而，在高功率微波强场信号作用下，一方面，材料性质会受到信号参数的影响发生变化，连续波信号下获取的材料屏蔽效能不能准确反映高功率微波下材料屏蔽效能；另一方面，由于高功率微波具有快上升沿、窄脉宽和低占空比等特点，连续波信号测试系统中常用的频谱分析仪、网络分析仪等仪器设备难以准确有效地获取高功率微波这类时域脉冲信号激励下材料屏蔽效能。目前，已有的标准和方法难以满足高功率微波条件下材料屏蔽效能测试需求。鉴于此，亟需对电磁屏蔽材料高功率微波屏蔽效能的表征、测量方法进行规范，形成标准，支撑电磁屏蔽材料高功率微波防护加固应用。
 

　　本文件主要对电磁屏蔽材料高功率微波屏蔽效能测量方法进行规范，帮助相关行业准确掌握该类产品的防护性能，促进产品的技术发展，提高产品质量，以更好支撑电磁防护加固应用。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
 

　　本文件起草单位：中国工程物理研究院应用电子学研究所、上海市计量测试技术研究院、美信新材料股份有限公司、江苏省质量和标准化研究院、北方工程设计研究院有限公司、中电科思仪科技股份有限公司、北京华宇新奥科技有限责任公司、中国科学院金属研究所、成都摩尔环宇测试技术有限公司、北京无线电计量测试研究所、华为终端有限公司、电子科技大学、中国计量科学研究院、哈尔滨工业大学、安徽师范大学、江苏省计量科学研究院(江苏省能源计量数据中心)、江苏中迪新材料技术有限公司、天诺光电材料股份有限公司、安方高科电磁安全技术(北京)有限公司、天津大学、深圳市飞荣达科技股份有限公司。
 

　　本文件描述了 300 MHz~40 GHz 频率范围内电磁屏蔽材料高功率微波屏蔽效能测量方法、安全与防护以及测试报告内容。本文件适用于平面型电磁屏蔽材料的高功率微波屏蔽效能测量。
 

　　通则：
 

　　电磁屏蔽材料高功率微波屏蔽效能测量在微波暗室内进行，暗室内置屏蔽暗箱用于屏蔽效能测试，屏蔽暗箱屏蔽效能需大于被测材料的预期屏蔽效能 6dB 以上。屏蔽暗箱尺寸要求见附录 A，测试窗口为正方形，尺寸不小于0.6m×0.6m，适用频率范围为 300 MHz~40 GHz，窗口边界距屏蔽暗箱侧壁不小于 0.5 m，窗口中心距屏蔽暗箱底部高度不小于 1 m。如仅用于 1 GHz~40 GHz 屏蔽效能测量，测试窗口尺寸宜为 0.3 m×0.3 m，窗口边界距屏蔽暗箱侧壁不小于 0.1 m。
 

　　测量条件：
 

　　测量条件应满足以下要求：
 

　　a) 环境温度：(23±5)℃；
 

　　b) 环境相对湿度：低于80%；
 

　　c) 试样测量前在上述环境中保持48 h；
 

　　d) 环境电磁噪声对测量结果不产生影响。
 

　　辐射防护要求如下：
 

　　a) 设置辐射警戒隔离区域，并对高功率微波源的运行状态、周围可能超过限值的区域进行监测；
 

　　b) 警戒隔离区域外，电磁辐射环境应满足GB 8702-2014中有关电磁辐射防护限值的规定，电离辐射环境应满足GB 18871-2002中有关电离辐射防护限值的规定；
 

　　c) 试验人员若需于警戒隔离区域内开展试验，则应采取必要的防护措施，确保工作环境满足GB 8702-2014中有关电磁辐射防护限值的规定和GB 18871-2002中有关电离辐射防护限值的规定。
 

　　安全警示要求如下：
 

　　a) 试验开始前，应在整个试验区域关键位置设置明显的警戒标识，必要时宜设立声、光警报器；
 

　　b) 试验进行中，应进行监控，防止人员进入试验区域；
 

　　c) 试验结束后才能移除警戒标识或解除警报。
 

　　测试报告：
 

　　测试报告包含主要信息如下：
 

　　a) 本文件编号；
 

　　b) 被测材料的标识，如试样名称、型号、编号等信息；
 

　　c) 测量配置，包括测量环境、测量仪器设备等；
 

　　d) 测量数据和结果记录，参见附录F；
 

　　e) 测试日期；
 

　　f) 与本文件的任何偏差的说明。
 

　　更多详情请见附件。